Minitab：组间/组内能力分析

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组间/组内能力分析

组间/组内能力分析可同时根据子组间和子组内变异生成过程能力报告。

〖例1〗某工程师从25个连续加工的纸卷中收集了3个涂层厚度测量值。对于每个新的纸卷，都要重置机器，因此工程师除了需要考虑纸卷内的变异之外，还需要考虑各个纸卷之间的变异。薄膜厚度必须为50±3μm才能满足工程规格。试进行组间/组内能力分析。（薄膜厚度.MTW）。

一、打开工作表：“薄膜厚度.MTW”。

二、选择【统计（Stat）】

→【质量工具（QualityTools）】

→【能力分析（CapabilityAnalysis）】

→【组间/组内（Between/Within）】菜单，打开能力分析（组间/组内）

（CapabilityAnalysis (Between/Within)）主对话框

■【数据排列为（Dataare arranged as）】为【单列（Single column）】，并选择“C1（涂层）”，【子组大小（Subgroupsize）】为“C2（纸卷）”。

设定【规格下限（Lowerspec）】为47

【规格上限（Upperspec）】为53。

  三、选项（Options）对话框（见图17-23）中，在【目标（添加Cpm到表格）（Target(adds Cpm to table)）】中输入目标值50；【对能力统计量使用K×σ的公差（Usetolerance of K*sigma for capability statistics）】为6；【进行分析（PerformAnalysis）】选择【组间/组内分析（Between/withinanalysis）】和【整体分析（Overall analysis）】。【显示（Display）】选择【百万分之（Partsper million）】，并选择【能力统计量（Cp、Pp）（Capabilitystats (Cp, Pp)）】。

    四、主要结果与分析

P_p、C_p均介于1～1.33之间，表明过程能力正常，但仍有改进的空间；P_pk、C_pk，表明分布中心稍有偏离，C_pm=1.18，表明数据较接近目标值。纸卷涂层厚度的预期不合格率为194ppm，表明过程是有效的，见图17-24。

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文章标题：Minitab：组间/组内能力分析
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